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股票代碼:002819

股票代碼

SZ002819

400-650-5566

SENTECH SE800adv-PV 紫外/可見光光譜橢偏儀

sentech SE800adv-PV 紫外/可見光光譜橢偏儀
  SENTECH紫外/可見光/近紅外光譜橢偏儀SE 800針對太陽能電池應用,可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。
  針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于最佳的橢偏光路設計,高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件,可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數,光學帶寬等。

·快速、精確的橢偏測量與分析
·光譜范圍寬達300nm-930nm
·步進掃描分析器(SSA)測量模式,提高信噪比
·寬帶超消色差補償器,用于去極化效應修正
·起偏器跟蹤技術,計算機控制起偏器角度
·SpectraRay II-功能強大的光譜橢偏測量與分析軟件
·對專家和初學者同樣易于操作
·SENTECH專有的材料數據庫和樣品應用程序,方便有效地建模
·SpectraRay復雜軟件光譜橢偏分析包含復雜多角度、多樣品數據分析,可編程用戶接口和先進的報告

光譜范圍:

300 nm - 930 nm UV-VIS

光滑樣品表面
240-930nm

樣品尺寸:

男女黄段视频高清可放置156 x 156 mm,200 x 200 mm電池片,或其它尺寸

襯底:

透明、半透明,非透明襯底

光學和機械部分:

橢偏操作原理:

結合PSA PCSA 二種模式:
P: 起偏器
C: 補償器 (超-消色差)
S: 樣品
A: 步進掃描分析器

光源:

穩定75W 氙弧燈提供UV/VIS光譜
男女黄段视频高清壽命:超過1000小時

起偏器 / 分析器:

UV Glan Thompson 晶體

計算機控制檢偏器和起偏器

消光比:

10-6

測量光斑:

男女黄段视频高清手動可調直徑范圍1 mm -- 4 mm

男女黄段视频高清選件:200 μ 微光斑

探測系統

高靈敏度CCD

樣品臺:

男女黄段视频高清高度和水平獨立精密調整

樣品對準:

男女黄段视频高清自動對準顯微鏡和光學顯微鏡適用于最準確的樣品對準(聚焦和水平調整)

選件:
CCD 像機,
推薦用于硅太陽能電池測量

測量時間:

全ψ / Δ 譜:
典型時間: < 10 s

控制器:

模塊化單元帶桌面橢偏光學透鏡和量角器
男女黄段视频高清分立的19”機架包含光源, 橢偏儀控制器,帶電路板和微控制器單元,光度計

計算機:

HP臺式PC機,
17” TFT-FPD顯示器, 鍵盤, 鼠標, Windows XP 操作系統

功率需求:

額定電壓:115/230 VAC
自動選擇 (100-132 VAC or 207-264 VAC),
額定頻率: 50-60 Hz,
男女黄段视频高清額定功率: 350 W.

環境:

男女黄段视频高清普通光學實驗室環境,也可用于百級潔凈室,不引入污染

數據采集和分析軟件:

光譜測量

SPECTRARAY II操作與分析軟件包括:

  • 系統校準
  • 自動設置光學組件
  • 手動執行用戶定義的任務
  • 光譜以標準能量(波數、電子伏特)或者波長單位顯示
  • 樣品響應的逼真監視,在線的ψ和△表述

數據處理:

·SPECTRARAY II包括GRAMS軟件包,可操作FT-IR系統和處理光譜數據

·輸入/輸出:ASCII,CSV,SPC,其他光譜設備
·數學運算

文件管理功能:

軟件基于Windows XP平臺,提供全面的文件管理功能

用戶定義界面:

基于易用的源程序代碼,用戶可方便地定義測量、操作界面

Accuracy / performance精度/性能

準確度:

δ(Psi): 0.02 °
δ(Delta): 0.04°
男女黄段视频高清(for at least 90% of all wavelength)

常見選件

SE 800-2

計算機控制角度, 精度 0.01°

SE 800-3

微光斑選項, 200μm 光斑直徑,UV/VIS

SE800-61

視頻顯示器用于對準、幀抓取、微區光斑

SE 800-50

光譜擴展到近紅外1700 nm

SE-800-NIR

改善近紅外光譜到2500 nm

SE 800-15

Mapping樣品臺, x = 150 mm, y = 150 mm , (帶真空吸附) 帶快速掃描軟件

SE 800-16

Mapping樣品臺,x = 200 mm, y = 200 mm,(帶真空吸附)帶快速掃描軟件

SE800-51

另一套軟件SpectraRayⅡ

SE 800-30

男女黄段视频高清膜厚探針FTPadvanced

SE 400-K100

標準片100mm直徑,SiO2 on Si, 額定膜厚100 nm, 有校準證書

SE 400-K80

標準片100mm直徑, SiN on Si, 額定膜厚80 nm, 有校準證書

SE800 PV應用報告(晶硅電池減反膜,薄膜電池TCO膜,PIN多層膜測量報告)請致電400- 650-5566或郵件索取。